AOI,半導體設備,wafer,鍍鋁片,氧化膜片,氣浮導軌,花崗石構件
花崗石量規、結構件、氣浮導軌、機構組裝、氣壓式避震器、陶瓷吸盤、半導體材料
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軸類尺寸公差檢查設備

軸類尺寸公差檢查設備簡介: 機台架構包含一精密旋轉分度盤、Z軸移動裝置、夾盤裝置及頂針機構,結合Line scan影像裝

軸類尺寸公差檢查設備
簡介: 機台架構包含一精密旋轉分度盤、Z軸移動裝置、夾盤裝置及頂針機構,結合Line scan影像裝置,可進行軸類工件量測。
應用:軸類尺寸公差量測,刀具量測

 

CCD檢測機
簡介: 直交式機械手臂結合CCD影像辨識系統進行工件輪廓辨識。
應用:工件輪廓辨識

軸2
軸2
軸3
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